JEOL JWS-7500E(WAFER INSPECTION SYSTEM)(SN : 40753
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JEOL JWS-7500E(WAFER INSPECTION SYSTEM)(SN : 40753

商家设备
报价：会员登陆可见（不含增值税）

Metrology

类型

****年

年份

8"

晶片尺寸

基本信息

  • 型号：JWS-7500E
  • 类型：Metrology
  • 年份：****年
  • 晶片尺寸：8"
  • 设备数量：1
  • 销售状态：待出售

设备描述

1. Condition : As-is
2. Location : AIRDOME
3. process : WAFER INSPECTION SYSTEM
4. Vintage : ****
5. Wafer Size : 8"
6. Shipping : EXW

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